M927i
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El sensor PIR integrado M927i está hecho de un elemento sensible
Hecho por materiales de cerámica de silicato tradicionales (PZT).
Esencia la comunicación de sondas de dos vías y
Controladores externos (µC) se da cuenta de la aplicación de varios
Estado de trabajo de configuración. El elemento sensible se convierte
la señal móvil humana inducida a través de una muy alta
Entrada de acoplamiento de circuito de entrada diferencial de impedancia
Acondicionamiento de señal digital IC. El chip IC digital es
convertido en una señal digital a través de ADC de 14 bits,
que es conveniente para el procesamiento de señales posterior
y control lógico. Incluyendo condiciones de control, como la detección de sensibilidad, el ajuste de los umbrales de activación, después de activar el tiempo de bloqueo ciego, el número de ventanas de tiempo y algoritmos del medidor de pulso de señal de los eventos de activación de activación, y la elección de los tres modos de trabajo puede ser a través del controlador externo (µC) desde una interfaz de comunicación de línea única a través de una interfaz de comunicación de línea única. Serin configura el registro interno para implementar. Cuando las sondas digitales se controlan diariamente la detección de ejercicio continuo, µC no necesita despertarse (ingrese el estado de espera para ahorrar el consumo de energía); Solo cuando la sonda digital detecta la señal humana móvil y cumple con las condiciones de activación de avance de la configuración de avance, el IC de acondicionamiento interno de la sonda pasa/ pasar/ pasar/ pasar/ doci externamente envía una instrucción de interrupción -up al µC, y µC ingresa al estado de trabajo (realiza una acción de control de seguimiento). De acuerdo con el modo de trabajo de configuración, 可 C también puede leer regularmente a través del puerto DOCI o leer por la fuerza el valor de salida digital de la sonda en cualquier momento, y luego determinar la ejecución posterior de la acción de control por el µC a través de la condición de control del algoritmo de calculación. Gracias a las interrupciones para despertar este mecanismo de trabajo de ahorro suficiente, este sistema de detección digital es adecuado para ocasiones con mayores requisitos de conservación de energía, especialmente la aplicación de la fuente de alimentación de la batería. Es la solución de control del sensor de ahorro más potencial.
1. Procesamiento de señal digital, comunicación de dos vías con el controlador;
2. Configure las condiciones de detección y activación e implementa tres modos de trabajo diferentes para admitir la salida de los resultados de monitoreo móvil humano y la salida de filtrado de ADC de datos PIR;
3. El segundo pedido Bartworth con sensor infrarrojo construido con un filtro para bloquear la interferencia de entrada de otras frecuencias;
4. El interior interno interno del circuito de acondicionamiento de WeChat infrarrojo está sellado en la cubierta de blindaje electromagnético. Solo la fuente de alimentación y la interfaz digital de los pies exteriores tienen la capacidad de resistir la interferencia de radiofrecuencia;
5. En la profundidad de la consideración del mecanismo de trabajo del sistema para ahorrar el consumo de energía y la aplicación de equipos para la fuente de alimentación de la batería;
6. Voltaje de la fuente de alimentación y detección de temperatura;
7. Apague el trabajo de autoinspección y rápidamente estable;
8. El elemento sensible utiliza un material de cerámica de silicato típico (PZT), que contiene elementos de plomo traza (Pb).
1. Juguetes;
2. Detección de ejercicio PIR;
3. Sensor IoT;
4. Pruebas de invasión;
5. Marco de fotos digital;
6. Prueba de lugar;
7. Luces de detección;
8. Luces interiores, pasillos, escaleras, etc. Control;
9. TV, refrigerador, aire acondicionado;
10. Alarma privada;
11. Cámara de red;
12. Monitor LAN;
13. ALARMA USB;
14. Sistema automotriz anti -THEFT.
4.1 Valor de calificación máxima
La tensión excesiva eléctrica que excede los parámetros en la siguiente tabla puede causar daños permanentes al dispositivo, y el trabajo que excede la condición nominal máxima puede afectar la confiabilidad del dispositivo.
Parámetro | Símbolo | Mínimo | Máximo | unidad | |
Voltaje de la fuente de alimentación | VDD | -0.3 | 3.6 | V | 25 ℃ |
Voltaje de pasador | VNTO | -0.3 | VDD + 0.3 | V | 25 ℃ |
Corriente de tubería | En | -100 | 100 | mamá | Horario de un solo pin |
Temperatura de almacenamiento | TST | -40 | 125 | ℃ | <60% RH |
Temperatura de funcionamiento | Bebedor | -40 | 70 | ℃ |
4.2 Características eléctricas (condiciones de prueba para valores típicos: Tamb =+25 ℃, VDD =+3V )
Parámetro | Símbolo | Mínimo | Típico | Máximo | Unidad | Observación |
Condiciones de trabajo | ||||||
Voltaje de trabajo | VDD | 1.5 | 3.6 | V | Simplemente consistente con el voltaje de suministro de µC | |
Trabajo actual, vreg | IDD1 | 5 | 6.0 | µA | Este producto no es aplicable | |
Trabajo actual, vreg cerrado | IDD | 3 | 3.5 | µA | Aplicable este producto VDD = 3V, sin carga | |
Ingrese el parámetro serina | ||||||
Ingrese bajo voltaje | Vil | - 0.3 | 0.2vdd | V | ||
Ingrese alto voltaje | VIH | 0.8vdd | 0.3 + VDD | V | Max V <3.6V | |
Corriente de entrada VSS | II | -1 | 1 | µA | VSS | |
Reloj digital Tiempo de bajo nivel | TL | 200 | 0.1/ fclk | ns/µs | Típico: 1-2 µs | |
Reloj digital Tiempo de alto nivel | th | 200 | 0.1/ fclk | ns/µs | Típico: 1-2 µs | |
Tiempo de escritura de bits de datos | TBW | 2/fclk - th | 3/fclk-- th | µs | Típico: 80-90 µs | |
Se acabó el tiempo | twa | 16/fclk | 17/fclk | µs |
Salida del pie int/doci-out | ||||||||||||
Ingrese bajo voltaje | Vil | - 0.3 | 0.2vdd | V | ||||||||
Ingrese alto voltaje | VIH | 0.8vdd | 0.3 + VDD | V | Max V <3.6V | |||||||
Corriente de entrada | IDI | -1 | 1 | µA | ||||||||
Tiempo de establecimiento legible de datos | TDS | 4/fclk | 5/fclk | µs | ||||||||
Tiempo de preparación de la posición de datos | Cucharadita | 1 | µs | Cload <10pf | ||||||||
Tiempo de establecimiento para la lectura obligatoria | TFR | 4/fclk | µs | |||||||||
Tiempo de interrupción y compensación | TCL | 4/fclk | µs | |||||||||
Reloj de datos La baja electricidad suele ser larga | TL
| 200 | 0.1/ fclk | ns/µs | Típico: 1-2 µs | |||||||
Reloj de datos El nivel alto suele ser largo | Th | 200 | 0.1/ fclk | ns/µs | Típico: 1-2 µs | |||||||
Duración de lectura de datos | TBIT | 24 | µs | Típico: 20-22 µs | ||||||||
Tiempo de espera de lectura | Trayectoria | 4/fclk | µs | |||||||||
Doci derriba el tiempo | Tdu | 32/fclk | µs | Para la actualización de datos | ||||||||
Entrada pirina/npirina | ||||||||||||
Pirin/Npirin TOVSS resistencia a la entrada | 30 | 60 | G remo | -60mv | ||||||||
Puntos de diferencia de resistencia de entrada | 60 | 120 | G remo | -60mv | ||||||||
Pirina Rango de voltaje de entrada | -53 | +53 | MV | |||||||||
Resolución/paso | 6 | 6.5 | 7 | µV/recuento | ||||||||
Rango de salida de ADC | 511 | 2^14-511 | Cuenta | |||||||||
Sesgo de ADC | 7150 | 8130 | 9150 | Cuenta | ||||||||
Coeficiente de temperatura de ADC | -600 | 600 | PPM/K | |||||||||
ADC Entrada ruido Balance de la raíz cuadrado F = 0.1Hz ... 10Hz | 52 | 91 | µVPP | F = 0.09 ... 7Hz | ||||||||
Medición del voltaje de la fuente de alimentación | ||||||||||||
Rango de salida de ADC | 2^13 | 2^14-511 | Cuenta | |||||||||
Resolución de voltaje | 590 | 650 | 720 | µV/recuento | ||||||||
ADC sesgo @ 3V | 12600 | Cuenta | aproximadamente ± 10% de descuento | |||||||||
Medición de temperatura (requiere una calibración de un solo punto) | ||||||||||||
Resolución | 80 | Cuenta | ||||||||||
Rango de salida de ADC | 511 | 2^14-511 | Conteos/k | |||||||||
Valor parcial @ 298k | 8130 | Cuenta | aproximadamente ± 10% de descuento | |||||||||
Oscilador y filtro | ||||||||||||
Frecuencia muerta del filtro de paso bajo | Fclk*1.41/2048/π | Hz | 2 ° orden BW | |||||||||
Frecuencia muerta del filtro de paso alto | Fclk*p*1.41/32768/π | Hz | 2 ° orden BW P = 1 o 0.5 | |||||||||
Frecuencia del oscilador en la película | Fosci | 60 | 64 | 72 | khz | |||||||
Reloj del sistema | FCLK | Fosci/2 | khz |
Calcule la señal de salida de la señal de salida de filtro de Strip o de paso bajo (determinado por la configuración). Cuando el nivel de señal excede el umbral de sensibilidad de la prefiguración previa, se generará un pulso interno. Cuando la señal cambia el símbolo (o la configuración no es necesaria para cambiar el símbolo) y excede el umbral de configuración nuevamente, se calculará el cálculo del pulso posterior. Se produce la condición del evento de salida o alarma, como el pulso y la ventana de tiempo de conteo del pulso. Si el evento anterior se borra al restablecer la interrupción, detenga cualquier detección dentro del siguiente tiempo de bloqueo ciego con configurado. En la configuración del proceso de los escenarios de aplicación que requieren una alta detección de sensibilidad, esta característica es muy importante para evitar que la autoirritación se active.
La interrupción se eliminará conduciendo un nivel bajo '0 ' por al menos 120 µs (TCL); Luego, el procesador puede volver a cambiar el puerto al estado de alta impedancia.
4.6 Interfaz serie y función de registro configurable Descripción
La configuración del algoritmo de control de IC de acondicionamiento es que el controlador se implementa programando la programación de registros relacionados con IC a través del PIN de serina, y utiliza un protocolo de comunicación de línea única de datos de reloj simple. El controlador lee los datos de configuración del IC de acondicionamiento con el pin int/DOCI y utiliza un protocolo de salida de línea única de datos de reloj similar. Cuando la serina está en el bajo nivel de al menos 16 relojes del sistema (y VDD está en el rango normal), la sonda IC de acondicionamiento interno comienza a aceptar nuevos datos.
Los siguientes parámetros se pueden ajustar mediante el acondicionamiento del registro IC:
1). Sensibilidad [8 bits]
El umbral de sensibilidad/detección está definido por el valor de almacenamiento; El paso de volumen de dirección es de 6.5 µV, y el umbral = el valor de registro*6.5 µV.
2). Tiempo de bloqueo ciego [4 bits]
Después de que la salida reinicie y vuelva a 0, ignore el tiempo de blindaje de la detección de movimiento:
Alcance: 0.5s ~ 8s, tiempo de bloqueo ciego = valor de registro*0.5s + 0.5s.
3). Recuento de pulso en la detección de ejercicios [2 bits]
Alcance: 1 ~ 4 pulsos con (o no) cambio de símbolo, número de pulso = valor de registro +1.
4). Ventana en detección de ejercicios [2 bits]
Alcance: 2s ~ 8s, tiempo de ventana = valor de registro*2s + 2s.
5). Startup de detección deportiva [1 bit]
0 = deshabilitar (cerrado), 1 = habilitar.
6). Fuente de interrupción [1 bit]
La fuente de interrupción se puede seleccionar entre la salida lógica de detección de movimiento o la extracción de filtro de datos de salida ADC. Si elige dibujar un filtro, generará cada 16 milisegundos
Sobre la interrupción, transmite una trama de datos originales efectivos.
0 = Detección de movimiento, 1 = la salida de datos original del filtro.
Apague todas las salidas de interrupción configurando la fuente de interrupción en la detección de movimiento y apagando la función de detección de movimiento, y solo puede ser forzado por el controlador a forzar las lecturas.
Señal PIR
Int ssp
Int mcu
4PIN Digital Digital Two -Way Communication PIR Sensor M927i
7 Rev: A/2 2021.04.29
7) .Adc Selección de fuente [2-bits]
Reutilizar los recursos de ADC. El terminal de entrada de ADC se puede seleccionar de la siguiente manera: a continuación:
PIR Signal BFP, salida = 0
PIR Signal LPF, salida = 1
Voltaje de potencia = 2
La temperatura en la película = 3
*Para el modo de detección deportiva, debe elegir '0 ' o '1 '.
8). El estabilizador Yuan de Pyro Sensitiva incorporado permite el control (2.2V) [1 bit]
Proporcione un 2.2V ajustable: 0 = enable, 1 = no se puede (deshabilitar) en la salida VREG; '1 ' debe seleccionarse cuando la configuración del producto debe deshabilitarse.
9). Autodificación [1 bit]:
Se necesitan 2 segundos para completar el programa PIR Self -testing durante 2 segundos; La función de prueba de auto -prueba comienza desde el salto de 0 a 1; La aplicación debe configurarse en 0 y no debe cambiarse en el medio.
10). Muestra de valor de electricidad o frecuencia de fecha límite de Qualcomm seleccione [1 bit]:
Para diferentes tamaños de elementos sensibles a cerámica caliente, puede elegir diferentes condensadores de muestra para pruebas de cerámica calientes; En la aplicación, puede configurar la frecuencia de corte HPF Qualcomm.
0 = 0.4Hz, 1 = 0.2Hz
11). Dos entradas de PIR corto [1 bit]
1 = conexión corta (sesgo cero ADC medido), 0 = uso normal; La aplicación debe estar configurada en 0.
12). Modo de algoritmo de medición de pulso de detección de movimiento [1 bit]
1 = El pulso cuenta directamente, 0 = el pulso vecino debe ser simbólico positivo y negativo para contar
4.7 Configurar el protocolo de comunicación serina del registro
Los datos de configuración están escritos en el IC de acondicionamiento interno por el controlador a través de la serialización de la serina. El controlador externo debe ingresar la conversión de 0 a 1 en la entrada de la serina, y luego escribir los valores (0/1) de la misma manera; 1 'Time can be short (a instruction cycle of the controller). TBW requires at least two system clocks (TBIT) that needs to regulate IC, not more than three system clocks (TBIT) that regulates IC. The 25 -bit register data must be completely written in one -time; when the data bits are interrupted by a system clock (TWL) with more than 16 times during the transmission process, the last incomplete data received was locked into the internal register, and the La interrupción excedida excedió excediendo cuando el reloj del sistema 5x (TWL), el registro también puede ingresar al estado de bloqueo y no puede continuar escribiendo.
Diagrama de secuencia de tiempo de control de interfaz de entrada de serina
Bit-no | Registro | Observación |
[24:17] | [7: 0] Sensibilidad | El umbral de prueba se define de acuerdo con 6.5 µV. |
[16:13] | [3: 0] interrumpir el tiempo de bloqueo ciego | El tiempo de configuración (0.5s ~ 8s); Es el período de bloqueo ciego después del reinicio de la salida |
[12:11] | [1: 0] batidora de pulso | Activar el número de pulsos dentro de la ventana de tiempo especificada del incidente de la alarma |
[10: 9] | [1: 0] Hora de la ventana | En la ventana de tiempo de configuración (2S ~ 8s), el número de pulso de medición que alcanza los valores de la configuración avanzada activará el incidente de la alarma. |
[8] | [0] Inicie el detector de movimiento | 0 = deshabilitar, 1 = Habilitar |
[7] | [0] fuente de interrupción | 0 = Estado de detección de movimiento, 1 = el estado de salida original del filtro |
[6: 5] | [1: 0] Fuente de voltaje ADC/Filtro | 0 = PIR (BPF); 1 = PIR (LPF); 2 = Voltaje de la fuente de alimentación (LPF); 3 = Sensor de temperatura (LPF) |
[4] | [1] El regulador está cerrado o habilitación | 0 = abierto; 1 = Cerrar. Debe configurar el bit a '1 'y cerrar. |
[3] | [0] Comience la prueba propia | El salto de 0 a 1 inicia el proceso de autoinspección PIR, escriba en la aplicación 0. |
[2] | [0] Tamaño de capacitancia de autoinspección o HPF | 1 = 2 * Capacitancia predeterminada de la prueba propia; En la aplicación, puede configurar la frecuencia de corte de Qualcomm HPF: 0 = 0.4Hz, 1 = 0.2h. |
[1] | Dos terminales de entrada de PIR corta | 1 = conexión corta (sesgo cero ADC medido); 0 = uso normal. |
[0] | Selección de modelo de algoritmo de medición de pulso | 1 = Recuento directo de pulso; 0 = Solo puede contar el pulso inverso. |
El valor de almacenamiento y los parámetros correspondientes
4.8 Protocolo de comunicación DOCI-Out para lectura de datos
La salida en serie del acondicionamiento IC en el controlador se usa como una salida de interrupción para indicar el movimiento; Cuando se usa como salida en serie, puede leer los datos de estado y configuración del IC de acondicionamiento. Durante la duración del ciclo de reloj del equipo (TFR), el DOCI se ve forzado a altos niveles y luego lee el bit de datos de acuerdo con el siguiente diagrama de tiempo. A través de los pies forzados que sean '0 ' dentro de al menos 4 ciclos de reloj del sistema, se puede terminar en cualquier momento. Después de leer los datos, µC debe reducir el DOCI y mantener el nivel bajo de 32 veces el reloj del sistema o superior para garantizar que los datos de registro interno de la sonda puedan actualizarse de manera oportuna.
Bit-no | Registro | Observación |
[39] | Indicador PIR Ultra -range | 0 medios más allá del rango, descarga automática de control corto en ambos extremos del elemento sensible |
[38:25] | [13: 0] Salida de voltaje PIR | Valor de voltaje de salida LPF o BPF, 6.5 µV Cada paso depende de la configuración |
[24:17] | [7: 0] Sensibilidad | El umbral de prueba se define de acuerdo con 6.5 µV. |
[16:13] | [3: 0] interrumpir el tiempo de bloqueo ciego. | El tiempo de configuración (0.5s ~ 8s); El período de blindaje después del restablecimiento de salida de interrupción ('H' Change 'L') |
[12:11] | [1: 0] Pulse Counter Digitalizer | Activar el número de pulsos dentro de la ventana de tiempo especificada del incidente de la alarma |
[10: 9] | [1: 0] Hora de la ventana | En la ventana de tiempo especificada (2s ~ 8s), el número de pulso de medición alcanza los valores de configuración de avance activará el incidente de la alarma |
[8] | [0] Inicie el detector de movimiento | 0 = deshabilitar, 1 = Habilitar |
[7] | [0] fuente de interrupción | 0 = Estado de detección de movimiento, 1 = el estado de salida original del filtro |
[6: 5] | [1: 0] Fuente de voltaje ADC/Filtro | 0 = PIR (BPF); 1 = PIR (LPF); 2 = voltaje de la fuente de alimentación (LPF); 3 = temperatura (LPF) en la película (LPF) |
[4] | [1] El regulador está cerrado/habilitación | 0 = encender/1 = apagar; debe configurarse para ser '1' y apagar |
[3] | [0] Comience la prueba propia | El salto de 0 a 1 comienza el proceso de autoinspección PIR; La aplicación está escrita en '0' |
[2] | [0] Tamaño de capacitancia de autoinspección o HPF | 1 = 2 * Capacitancia predeterminada de autoinspección; En la aplicación, puede configurar la frecuencia de corte de Qualcomm HPF: 0 = 0.4Hz, 1 = 0.2Hz |
[1] | Dos terminales de entrada de PIR corta | 1 = conexión corta (sesgo cero ADC medido); 0 = uso normal |
[0] | Selección del modo de algoritmo de medición de pulso | 1 = Recuento directo de pulso; 0 = Solo puede contar el pulso inverso |
Registrar y parámetros correspondientes.
4.9 Cálculo de datos de medición
4.9.1. Medición de voltaje de señal de salida PIR
a) salida LPF de filtro de bajo paso
La fuente ADC [6: 5] debe cambiarse a la entrada PIR, y la salida LPF digital debe seleccionarse (Configuración de registro = 1).
Vpir = (ADC_ OUT -Adc_ Offset) * 6.5 μV
b) Filtro de bandas Salida BPF
La fuente ADC [6: 5] debe cambiarse a la entrada PIR, y debe seleccionar la salida digital LPF y HPF (es decir BPF) (configuración de registro = 0).
VPIR = ADC_ _OUT * 6.5HV.
4.9.2. Medición de voltaje de potencia
La fuente ADC [6: 5] debe cambiarse a la fuente de alimentación del chip (configuración de registro = 2).
Vdd = (ADC_ _Out -Adc__Offset) * 650 μV.
4.9.3. Película. Medición de temperatura
La fuente ADC [6: 5] debe cambiarse al sensor de temperatura (configuración de registro = 3).
Temperatura = tcal + [adc_ _out -adc_ _offset (tcal)] / 80 * cuenta / k
ADC_ offset = ADC valor@ vin = 0, valor típico = 2^13
ADC_ _OFFSET (TCAL) = Defina el valor ADC a la temperatura ambiente, valor típico = 8130 @ 298k.
M927i es una liberación armal digital de sensores infrarrojos infrarrojos que detectan cambios en los rayos infrarrojos. No se puede detectar para la fuente de calor fuera del cuerpo humano, o la temperatura de la fuente de calor sin fuente de calor y movimiento. Es necesario prestar atención a los siguientes asuntos, asegúrese de confirmar el rendimiento y la confiabilidad a través del estado de uso real.
8.1 Al detectar la fuente de calor fuera del cuerpo humano, el sensor es fácil de informar.
• Cuando los animales pequeños entran en el rango de detección.
• Cuando la luz solar, los faros del automóvil, las lámparas incandescentes, etc., cuando el sensor de luz infrarroja de las lámparas incandescentes, etc.
• Debido a la temperatura del aire caliente, el aire frío y el humidificador del equipo de la sala de temperatura fría, la temperatura en el área de detección ha cambiado drásticamente.
8.2 El fenómeno que no se puede detectar.
• Es difícil usar vidrio, acryline, etc. entre los sensores y el objeto de detección.
• Dentro del rango de detección, cuando la fuente de calor está casi libre de acción o cuando el movimiento de la velocidad ultra alta.
8.3 En el caso de la expansión del área de detección.
La temperatura del medio ambiente circundante y la diferencia de temperatura entre el cuerpo humano (aproximadamente 20 ° C), incluso fuera del rango de detección especificado, a veces habrá un caso más amplio de área de detección.
8.4 Precauciones para otro uso.
• Cuando haya manchas en la ventana, afectará el rendimiento de detección, así que preste atención.
• La lente de la sonda está hecha de material débil (polietileno). Después de aplicar una carga o impacto en la lente, causará inestabilidad o degradación debido a la deformación y el daño, por lo tanto, evite la situación anterior.
• La electricidad por encima de ± 200V puede causar daños. Por lo tanto, asegúrese de prestar atención cuando funcione, evite tocar el toque directamente con sus manos.
• Las vibraciones frecuentes y excesivas harán que el elemento sensible del sensor se rompa.
• Al soldar el pie del pasador, la soldadura manual debe llevarse a cabo por debajo de la temperatura del hierro eléctrico por debajo de 350 ° C y en 3 segundos. La soldadura a través de la ranura de soldadura puede causar el deterioro del rendimiento, intente evitarla.
• Evite limpiar este sensor. De lo contrario, el líquido de limpieza invade el interior de la lente, lo que puede hacer que el rendimiento se deteriore.
IX.
La compañía se reserva el derecho de actualizar regularmente este libro de especificaciones sin notificar a los clientes con anticipación. El manual de datos actualizado se emitirá a clientes relevantes a tiempo.